Описание
При проведении ионоселективных измерений важно предотвратить возможность измерения ионов, попадающих в образец через мостиковый электролит эталонного электрода. В частности, ионы Cl—, K+ или NO3—, часто используемые в электрохимических областях применения, никогда не должны проникать в измеряемый образец через мостиковый электролит при измерениях концентрации этих ионов. Поэтому для каждого метода измерения разработан соответствующий специальный мостиковый электролит.